電力設備絕緣子污穢度測試方法

    1、絕緣子污穢度測試項目

    架空線路絕緣配置是設計、運維單位關注的重要問題，絕緣配置或者說絕緣子片數、串長的選擇主要由絕緣子串的污閃電壓控制。對于設計人員，設計時需要知道線路走廊污穢度情況，而后才能決定線路采用何鐘絕緣子、采用多少片或者多少爬電距離。對于運維部門，要定期關注設備周邊污穢度的變化，并及時確定當前絕緣配置是否足夠，也即爬距校核。

    絕緣子污穢度測試通常包括等值鹽密、等值灰密測試，部分情況下需要進一步開展污穢離子成分測試。

    2、等值鹽密、等值灰密測試

    2.1 等值鹽密、灰密的概念

    等值鹽密（ESDD，“Equivalent Salt Deposit Density”）是指是以絕緣子表面每平方厘米的面積上附著的污穢中導電物質的含量所相當的NaCl的量(mg/cm2)，等值鹽密表征了絕緣子表面污穢充分溶解后的導電能力。等值鹽密增大將使絕緣子污閃電壓顯著下降。

    等值灰密（NSDD，“Non-Soluble Deposit Density”）指絕緣子表面每平方厘米面積附著的不容物質量（mg/cm2）?；颐軐^緣子污閃電壓有一定影響，隨著灰密增大絕緣子污閃電壓趨于下降，但比鹽密的影響弱許多。

    2.2 等值鹽密、灰密對污閃電壓的影響

    絕緣子污閃電壓隨著ESDD、NSDD增大分別呈負冪指數下降，其中鹽密其主要影響，污閃電壓與ESDD、NSDD關系如下式所示。   

 （1）

    其中a、b分別為ESDD、NSDD對污閃電壓的影響指數。

    2.3 等值鹽密、等值灰密測試方法

    ESDD、NSDD測試根據操作不同可分為3類：

    a.從線上拆下絕緣子或模擬積污串，在現場進行清洗、測量；

    b.從線上拆下絕緣子或模擬積污串，運回實驗室進行清洗、測量；

    c.采用取樣巾直接在塔上對絕緣子進行擦拭取樣，將取樣巾帶回實驗室進行浸泡、測試。

    其中a、b兩種方法是Z常用的測試方法，方法c對操作者要求較高，容易遺留污穢導致測試解雇偏低，但對于現場無法拆卸的支柱絕緣子、較難清洗的復合絕緣子、線路絕緣子的帶電作業污穢取樣有顯著優勢。